El nuevo método propuesto reduce significativamente este tiempo al recopilar un conjunto reducido de imágenes integradas durante el escaneo focal, mientras la iluminación se modula de manera sincrónica durante la exposición. Esto permite una reconstrucción más rápida del mapa de altura del objeto utilizando menos imágenes que los métodos convencionales.
El enfoque se basa en el aprovechamiento de la dispersión intrínseca de la mayoría de las muestras comunes, lo que permite una reconstrucción topográfica completa con menos datos. La técnica se caracteriza por su alta velocidad y facilidad de implementación, lo que podría tener un impacto significativo en la metrología óptica al permitir la caracterización en tiempo real de muestras grandes o en movimiento rápido.
Este avance representa un cambio de paradigma en la obtención de imágenes tridimensionales, ya que supera las limitaciones de velocidad y complejidad computacional de los métodos tradicionales. Además, abre nuevas oportunidades en aplicaciones como la inspección óptica en líneas de producción, la metrología de piezas fabricadas por adición y la medición de superficies biomateriales.